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在愛特蒙特光學了解不同類型的測試目標及其理想應用、優點、限制、方程式和範例。

測試雷射誘導損傷閾值 (LIDT) 尚未標準化，因此了解光學元件的測試方式對於預測性能至關重要。

光學基板的熱特性（包括 CTE、dn/dT 和熱導率）對於預測實際性能至關重要

計量對於確保光學元件始終滿足其所需的規格至關重要，尤其是在雷射應用中。

Learn how Edmund Optics maintains optical performance across the entire image plane through this resolution and contrast comparison using our C Series FFL lens.

Trying to understand how much information you can obtain from a lens and sensor? Learn more about the limitations of collecting data at Edmund Optics.

Do you want to know more about the importance of optical specifications? Learn the different types of specifications and their impact on your system at Edmund Optics.

並非所有光學元件都經過雷射誘導損傷閾值 (LIDT) 測試，且測試方法不同，導致 LIDT 規範類型不同。

您是否正在設計一個系統並考慮是否使用串聯照明？在愛特蒙特光學上了解更多有關使用線上產品的正確時間和比較的資訊。

不確定您的系統應該使用哪種類型的照明？在愛特蒙特光學上了解更多有關不同照明類型的優缺點的資訊。

雷射誘導損傷閾值 (LIDT) 或雷射損傷閾值 (LDT) 對於選擇或指定雷射光學器件至關重要。在愛特蒙特光學了解更多！

成像鏡頭和感光元件配對時必須特別注意。

超快雷射的短脈衝持續時間使其與光學元件的相互作用不同，從而影響光學元件的雷射損傷閾值。

畸變是一種個體像差，它會失去訊息，但可以從圖像中計算或映射出來。在愛特蒙特光學了解有關畸變的更多資訊。

雷射直徑對光學元件的雷射誘導損傷 (LIDT) 影響很大，因為光束直徑直接影響雷射損傷的機率。

光學器件的雷射誘導損傷閾值（LIDT）是一個受缺陷密度、測試方法和雷射波動影響的統計值。

您是否不清楚景深和焦深而感到困惑？在愛特蒙特光學中發現差異以及如何區分兩者。

“這支鏡頭的表現如何？”這聽起來可能是一個簡單的問題，但答案可能很複雜。

視差和畸變的消除在確定某些遠心鏡頭的品質方面發揮著重要作用。在愛特蒙特光學了解更多。

Laser optics high reflectivity mirrors meet exceptional specifications that Edmund Optics' competitors often fail to meet. Learn more at Edmund Optics.

您認為機器視覺應用不需要遠心照明嗎？了解愛特蒙特光學為何需要遠心照明。

在成像過程中，光線透過成像鏡頭從物體映射到成像感測器上，以再現物體的特徵和相似性，以便進行檢查、分類或分析。

有多種指標用於描述雷射光束的質量，包括 M2 因子、光束參數乘積和桶中的功率

Understanding the polarization of laser light is critical for many applications, as polarization impacts reflectance, focusing the beam, and other key behaviors.

光透過多種方法被光學介質吸收，包括將電子激發到更高能態以及轉化為熱能

光學元件的表面下損傷會導致吸收和散射增加，從而降低系統性能。

Have a question about ball lenses? Find more information about these optical components including essential equations and application examples at Edmund Optics.

Have a question about short-wave infrared (SWIR)? Find definitions, application uses, and examples at Edmund Optics.