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並非所有光學元件都經過雷射誘導損傷閾值 (LIDT) 測試，且測試方法不同，導致 LIDT 規範類型不同。

計量對於確保光學元件始終滿足其所需的規格至關重要，尤其是在雷射應用中。

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測試雷射誘導損傷閾值 (LIDT) 尚未標準化，因此了解光學元件的測試方式對於預測性能至關重要。

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了解為什麼玻璃的體雷射誘導損傷閾值 (LIDT) 與帶有塗層（例如 AR 薄膜）的 LIDT 光學元件顯著不同。

具有超低表面粗糙度的超精密拋光光學元件可最大限度地減少光學系統中的散射，這對於敏感雷射應用至關重要。

光學系統的 Strehl 比是其實際性能與其衍射極限性能的比較。