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HOLO/OR 繞射光束取樣器為繞射光學元件 (DOE),用於監控高功率雷射。輸入雷射光束以零階通過光束取樣器時,會產生兩個較高階的低能量側光束,作為 -1 及 +1 階。這兩個較高階的光束,接下來可引導至偵測器,用於監控雷射光束的輪廓及功率位準。HOLD/OR 繞射光束取樣器供應時採用硒化鋅 (ZnSe) 基材,可搭配使用 CO2雷射。
請注意:繞射光學元件不應在其設計波長以外範圍使用。繞射光學元件表面若遭油或其他物質弄髒,將會降低效能。操作這類光學元件時,建議一定要配戴手套或指套。
Title | 比較 | 庫存號碼 | 價格 | Buy | |
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10.6µm, 25.4mm, Diffractive Beam Sampler | #14-696 | NT$70,525 Request Quote |
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