量測技術

最先進的量測設備

全套量測系統可確保所有產品的質量

質量控制職能部門的員工超過 50 人

按照國際標準客製測試報告作為質量和功能的證明

Edmund Optics^®採用各種測量設備，以確保全球 5 個生產基地製造的光學元件和組件的質量。同時也會進行內部成像性能測試以及溫度、濕度、衝擊和振動的環境測試。Edmund Optics在客製光學元件的特製測試方面擁有經過驗證的良好記錄。還可按需提供產品測試和認證報告。包括干涉儀、輪廓儀、分光光譜儀和座標測量機 (CMM)在內的各種量測設備是 Edmund Optics 嚴格的全球質量計畫的組成部分之一。

能力

光學量測能力

干涉儀、輪廓儀、座標測量機 (CMM) 以及一系列光學和機械量測設備
輻射測量學：雜散光和眩光等
半自動 MTF 測量設備
通過 Varian 和 PerkinElmer 分光光譜儀進行紫外/可見/近紅外鍍膜表徵
振動、濕度、浸入和熱循環等環境測試設備
我們的設備透過Cybermetrics的GageTrak軟體，按照FDA 21 CFR Part 11、ISO 9001、ISO 13485和AS9100標準進行校準。
全公司負責質量控制工作的員工人數超過 50 人。
按照國際標準客製測試報告作為質量和功能的證明

內部光學元件測試

MTF
雜散光
遠心度
波前畸變
白光干涉儀
機械輪廓測量
雷射光束輪廓

先進設備

Zygo^® VeriFire™ 高解析度干涉儀干涉儀是用於測量微小位移、折射率變化和表面不規則度的儀器。將來自單一光源的光分成兩束獨立的光，這兩束光經過不同的光路後重新聚合。然後形成干涉條紋，提供兩條路徑之間光路長度差異的參數。干涉儀通常用於測量光學元件的表面精度。
QED ASI 非球面拼接干涉儀干涉儀是用於測量微小位移、折射率變化和表面不規則度的儀器。將來自單一光源的光分成兩束獨立的光，這兩束光經過不同的光路後再重新聚合。然後形成干涉條紋，提供兩條路徑之間光路長度差異的參數。干涉儀通常用於測量光學元件的表面精度。
Fujinan 干涉儀干涉儀是用於測量微小位移、折射率變化和表面不規則度的儀器。將來自單一光源的光分成兩束獨立的光，這兩束光經過不同的光路後重新聚合。然後形成干涉條紋，提供兩條路徑之間光路長度差異的參數。干涉儀通常用於測量光學元件的表面精度。
Xonox 干涉儀干涉儀是用於測量微小位移、折射率變化和表面不規則度的儀器。將來自單一光源的光分成兩束獨立的光，這兩束光經過不同的光路後重新聚合。然後形成干涉條紋，提供兩條路徑之間光路長度差異的參數。干涉儀通常用於測量光學元件的表面精度。
TRIOPTICS Opticentric^® 定心測量儀定心測量儀用於測量鏡片機械軸與光學軸之間的偏差。+ AspheroCheck 選項
Zeiss Contura G2 三座標測量儀 CMMsCMM 或座標測量儀是用於測量光學儀器物理尺寸的儀器。可以用電腦控制，也可以手動操作。
Talysurf PGI1240 輪廓儀輪廓儀是用於測量光學元件表面形貌的儀器，可提供曲率和不規則度的相關參數。
LUPHOScan 非接觸式 3D 輪廓儀輪廓儀是用於測量光學元件表面形貌的儀器，可提供曲率、平面度和不規則度的相關參數。
Zygo^® NewView™ 光學輪廓儀
OptiPro UltraSurf 4X 100 量測系統
OGP Smartscope
尼康自動準直儀自動準直儀是對角度進行非接觸式測量的光學儀器。
DigiMicro 顯微鏡顯微鏡用於確定光學元件的表面質量。
奧林巴斯 MX51 顯微鏡顯微鏡用於確定光學元件的表面質量。
Park Systems XE-100 原子力顯微鏡（AFM）原子力顯微鏡（AFM）透過小而鋒利的探頭在樣品表面掃描，以原子解析度測量樣品的表面形貌。這種針對表面的三維重建用於量化表面粗糙度。
Shack-Hartmann 波前感測器（SHWFS） Shack-Hartmann 波前感測器（SHWFS）使用微透鏡陣列測量光學元件或系統的透射和反射波前誤差，動態範圍廣，精度高。
光腔衰盪光譜儀（CRDS）光腔衰盪光譜儀（CRDS）透過測量發送到兩個高反射鏡圍成的諧振腔中的雷射脈衝的衰減，對反射和透射光學元件進行高靈敏度損耗測量。

Zygo^® VeriFire™ 高解析度干涉儀

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* The term dual use is often used to describe the types of items subject to the EAR (Export Administration Regulations). A dual use item is one that has civil applications as well as military or weapons of mass destruction (WMD)-related applications.

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光學量測能力

內部光學元件測試

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