BeamR2-Si Scanning Slit Beam Profiler

產品系列說明

• 設計工作波長190 – 1150nm
• 可測量光束直徑為 2µm – 4mm
• 提供功能強大且易於使用的控制軟體

DataRay 狹縫掃描式光束品質分析儀所使用的矽基探測器使其完美適用於 190nm – 1150nm 範圍內的檢測。Beam'R2 配備 2.5 µm狹縫和更大的刀刃狹縫，能夠測量直徑小至 2µm 的光束。狹縫掃描式光束品質分析儀的解析度比相機式系統高得多，且相容連續雷射與脈衝雷射。DataRay 狹縫掃描式光束品質分析儀是光學組裝和儀器對準、對焦和對準誤差的即時診斷、實現多組件即時共聚焦控制的理想選擇。這些分析儀由 USB 2.0 供電，包括一條 3m 長的 USB 2.0 電纜。