NIST Traceable Scratch Dig Standards

本表面品質標準可用於判定光學元件表面上的刮痕和亮點表面缺陷。除了刮痕和亮點標記外，本品還帶60mm刻尺，每個板上都有6個尺寸不一的柵格、6個頻率不一的刻線。柵格可用來測量形狀不規則缺陷的區域。區域的總缺陷面積的平方根即為該區域的等級編號。本標準採用兩個板一組的形式，板1包括範圍從0.004到0.040的等級編號，而板2包括範圍從0.040到0.400的等級編號。第一個面組具有玻璃基片頂部標記的圖案。第二個面組具有玻璃基片底部標記的圖案。正片採用不透明圖案，背景透明；負片為透明圖案，背景不透明。

注意：每個產品均隨附合格證書。

技術資訊

Plate 1
Grade No.	Circ. Diameter (μm)	Dim. of Scratch (μm)	Freq. Block (lp/mm)	Grid Block Line W (μm)	Grid Block Line Spacing (μm)
0.004	4.5	1 x 16	500	1	4.5
0.006	7	1.6 x 25	312.5	1.6	7
0.010	11	2.5 x 40	200	2.5	11
0.016	18	4 x 63	125	4	18
0.025	28	6.3 x 100	80	6.3	28
0.040	45	10 x 160	50	10	45

Plate 2
Grade No.	Circ. Diameter (μm)	Dim. of Scratch (μm)	Freq. Block (lp/mm)	Grid Block Line W (μm)	Grid Block Line Spacing (μm)
0.040	45	10 x 160	50	10	45
0.060	70	16 x 225	31.25	10	70
0.100	110	25 x 400	20	10	110
0.160	180	40 x 630	12.5	10	180
0.250	280	63 x 1000	8	10	280
0.400	450	100 x 1600	5	10	450