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本漫反射柵格畸變測試板的漫反射處理與陶瓷測試板相似,可將光線進行漫反射處理,防止成像面出現眩光。使用本測試板可輕鬆確定圖像中存在的精確畸變大小。可採用測量軟體中的Blob分析來計算圓點中心,並根據標準來計算,以從圖像中移除畸變。本測試板提供2種基片尺寸和3種圓點頻率,可與從廣角鏡頭到遠攝鏡頭的多種鏡頭配合使用。
Title | 比較 | 庫存號碼 | 價格 | Buy | |
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2" x 2" 0.0625mm Dot, Low Reflect Grid Distortion Target | #62-949 | NT$24,850 Qty 5+ NT$23,625 Request Quote |
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2" x 2" 0.125mm Dot, Low Reflect Grid Distortion Target | #62-950 | NT$23,975 Qty 5+ NT$22,792 Request Quote |
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2" x 2" 0.25mm Dot, Low Reflect Grid Distortion Target | #62-951 | NT$23,275 Qty 5+ NT$22,124 Request Quote |
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3" x 3" 0.125mm Dot, Low Reflect Grid Distortion Target | #62-952 | NT$29,925 Qty 5+ NT$28,441 Request Quote |
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3" x 3" 0.25mm Dot, Low Reflect Grid Distortion Target | #62-953 | NT$28,525 Qty 5+ NT$27,118 Request Quote |
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3" x 3" 0.5mm Dot, Low Reflect Grid Distortion Target | #62-954 | NT$27,475 Qty 5+ NT$26,107 Request Quote |
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