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短波紅外(SWIR)複消色差遠場校正物鏡

SWIR Plan APO Infinity Corrected Objective

SWIR Plan APO Infinity Corrected Objective

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  • 在短波紅外波段具有高解析度,波長可達1600nm
  • 放大倍率從 1X 到 50X 不等
  • 適用於光電發射檢測、雷射刻印和雷射切割     

SWIR 複消色差遠場校正物鏡經過色彩校正可在 800 – 1600nm 波段內,長距離條件下具備高解析度。這些物鏡提供 1X – 50X 的放大倍率,具有高數值孔徑,適用於短波紅外波長下的高解析度成像。這些物鏡具有共同的95mm平焦距,可以與 200mm 焦距的筒鏡和 C-mount 相機結合使用進行簡單的系統整合。短波紅外複消色差遠場校正物鏡適用於光電發射檢測、晶圓背面檢查、雷射玻璃切割和雷射掃描顯微鏡等應用。

 
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